老化試驗箱對半導（dǎo）體材料的測試原理

老化試驗箱對半導體材料的測試原理（lǐ）

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老化（huà）試驗箱（xiāng）對半導體材料（liào）的測（cè）試原理是為什麽呢？海（hǎi）達儀器老化試（shì）驗箱HD-704一（yī）般可做二種測試：老化與耐（nài）黃變，老化：本機可促進加硫（liú）橡膠之劣化，以計算加熱前後拉力及伸長之變化率，一（yī）般認為在70 ℃下測試一天，理論上相當於暴露在大氣中6個月的時間。耐黃：本（běn）機是模擬大氣環境中，受陽光紫外線照射，外觀變（biàn）化一般認為在50℃下測試9小時，理（lǐ）論上相當於暴露在大氣中6個月（yuè）的時間（jiān）。

在老化階段進行半導體測試之所以有意義有多（duō）種（zhǒng）原因，在探討這些原（yuán）因之前，我們首先要明確“測試”的真（zhēn）正（zhèng）含義。

一般半導體測試要用到昂貴的高速（sù）自動測（cè）試設備，在一個電性能條件可調的測試台上對半（bàn）導體作（zuò）測（cè）試。它還可（kě）以在標稱性能範圍之外進行，完成功能（邏（luó）輯）和（hé）參數（速度）方麵的測試，像信號升降時間之類的參數可到皮秒級。也許（xǔ）是（shì）因為可控測試環境隻有一個（gè）器件作為（wéi）電性負載，所以信號轉換很快，能夠進行真實的器（qì）件響應（yīng）參數測量。

但在老化的時候，為提高產品的產量是能夠同時對盡可能多的器件作老化。為滿足這一要求，可把多個（gè）器件裝（zhuāng）在一個大的印刷線路板上，這個板稱為老化板，它上麵的所有器件都並聯在一起。大型老化（huà）板的物理電氣特性不能和隻測試一個器（qì）件的小測試台相比，因為老化板上的容（róng）性和感性負載會給速度測試帶來麻煩。所以我們通常無（wú）法用老化進行所有功能測試。不過在某些情況（kuàng）下，運用（yòng）特殊的係統（tǒng）設計技（jì）術（shù）在老化環境下進行速度測試（shì）也是可能的。

老化係統中的“測試”可以（yǐ）指（zhǐ）任何（hé）方麵，從對每一器件每一管腳進（jìn）行基本信號測試，到對老（lǎo）化（huà）板上的所有器件作（zuò）幾乎100%功能測試，這一切均視器件複雜性及所（suǒ）選用的老化測（cè）試係統而定。可以說對任何器件進行（háng）100%功（gōng）能測試都是可以做得到的，但是這樣采用的（de）方法可能會減少老化板上的器件密度（dù），從而增加整體成本並降低產量。

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