高（gāo）低溫試驗箱的試（shì）驗方法與標準如何進行選擇

               高低溫（wēn）試驗（yàn）箱的試驗（yàn）方法與標準如何進行選擇   
   高低溫試驗（yàn）箱通常被用（yòng）來做高溫試驗、低溫試驗以及高低溫試驗的組（zǔ）合，其各種試（shì）驗的試驗方法與標準選擇一般以以下為準：

   高溫和低溫試驗是zui常見的一種環境試驗（yàn）項目。低溫試驗對產品產生的（de）影（yǐng）響主（zhǔ）要使材料變成脆硬性，致使破損開裂，強度降低（dī），潤滑作用減小，電（diàn）子元（yuán）器件性能引起變（biàn）化等（děng）。高溫試驗（yàn）對（duì）產品的影響主要表現在改變材料的物（wù）理性能和尺寸，不同（tóng）的材料膨脹不一致使零件粘結，潤滑劑外流使潤滑能力損失，電器元件過（guò）熱損壞，電子電路穩定性改變等。如對帶有塑膠件（jiàn）的產品這（zhè）二項試驗就很能夠暴露問題。

    高溫和低溫試驗試驗一般安排在一套試驗的早期，且為（wéi）相信順序，這樣既能夠考核等高（gāo）溫（wēn）對的耐高（gāo）溫和低溫能力也能夠達到耐溫變試驗的效果。高溫和低溫試驗（yàn）依（yī）據國標GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環境試驗 第（dì）2部分：試驗方法A：低溫試驗方法》和GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環境試驗第2部分：試驗（yàn）方法B：高溫試驗方法》。有（yǒu）散熱樣品溫度漸變和非散熱樣品溫度漸（jiàn）變（biàn）所做的規定來選擇，分為高溫工作和（hé）低溫工作試（shì）驗、高（gāo）溫存（cún）儲和低溫（wēn）存儲試驗，據實際樣品所屬是否散熱用工作和存儲（chǔ）兩種不同溫度點和（hé）產品狀態來進（jìn）行合適的考量。高溫和低溫工作試驗的溫度嚴酷度一般低於存儲類溫度5～10℃。在實際檢（jiǎn）測中*行（háng）工作試驗考核後再（zài）做關機狀態下存儲試驗，對於部分大電流、高發熱的電器產品，其高溫工作試驗可以（yǐ）代替（tì）高溫存儲試驗，因為其工作（zuò）時溫度已經超出其存儲溫（wēn）度極限，故隻需進行高溫工作試驗即可。常（cháng）見的高溫工作試驗溫度有：40℃、50℃，高溫存儲試驗溫度有：50℃、55℃，低溫（wēn）工作試驗有：0℃、-10℃、-20℃，低溫存儲試驗溫度有：-20℃、-40℃，工作試驗時間2h～4h～8h，存儲試（shì）驗8h～16h～24h。通常高溫和低（dī）溫試驗能夠暴露出產品的缺陷如：外殼變形，電性能（néng）故障不能正常運行等，從而達到整改的目的。如（rú）產品高溫可靠性試驗也是高溫工作試驗一種。

    高低溫組合也是覺（jiào）的試驗項目(推薦使用可程式高低溫試驗箱)，多用來更嚴酷地考核產品內外結構性能和電性能（néng）。

a)溫度衝擊試驗-溫度突變Na是目前常用來考核元器（qì）件（jiàn）和材料一（yī）種試驗。高低溫衝（chōng）擊（jī）試驗是（shì）通（tōng）過快速溫變（biàn）來達到考（kǎo）核產品的目的，因為屬於非（fēi）工（gōng）作狀態高低溫衝擊試驗（yàn）的指標上、下限多采用高、低溫（wēn）存儲試驗的上、下限，可參照（zhào）試驗樣品在高（gāo）、低（dī）溫存儲試驗中獲得的的溫度響應特性等信息。    b)溫度變化試驗-溫度（dù）漸（jiàn）變Nb常用（yòng）來考核整機試驗（yàn）。在試驗中產品按要求（qiú）可處於工作狀態，因此溫度變化試驗的上、下限往往使用高、低溫工作試驗的上、下限。這二項試驗參照的標準有GB/T 2423.22-2002《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫（wēn）度變（biàn）化》等，根據實際要求選（xuǎn）擇高溫點和低溫點，滯（zhì）留時間，溫變速率，循環次數定試驗等級。